По году тюрьмы получили инженеры китайского происхождения за экономический шпионаж

По году тюрьмы получили два инженера китайского происхождения за экономический шпионаж. Они обвинялись в похищении дизайна микросхем у своих работодателей. Оба признали себя виновными в 2006 году и стали первыми, приговоренными в соответствии с Актом об экономическом шпионаже от 1996 года.

По году тюрьмы получили два инженера китайского происхождения за экономический шпионаж. Они обвинялись в похищении дизайна микросхем у своих работодателей. Оба признали себя виновными в 2006 году и стали первыми, приговоренными в соответствии с Актом об экономическом шпионаже от 1996 года.

Такие сроки Фей Йе и Минг Зонг получили за кражу и попытку переправить украденные у компьютерных компаний из Силиконовой долины микросхемы, в Китай, сообщает ИТАР-ТАСС.

Инженеры были задержаны 7 лет назад в аэропорту Сан-Франциско при посадке на рейс, направлявшийся в Китай. В багаже у них были обнаружены копии документов и чертежи микросхем, похищенные у четырех компаний, на которые они работали. В чемоданах были найдены также документы, из которых стало ясно, что Йе и Зонг обращались к правительству Китая с просьбой предоставить помощь в открытии хай-тек компании.

Изначально Йе и Зонгу грозило до 30 лет тюрьмы, но прокуратура в обмен на сотрудничество со стороны обвиняемых существенно сократила сроки. В июне к 2 годам тюрьмы был приговорен еще один инженер китайского происхождения, пытавшийся продать китайским ВМС специальную программу по обучению пилотов.