Исследователи разработали крошечные метки идентификации размером с атом. Они помогут повысить безопасность работы с подключёнными к компьютеру устройствами.

Британские специалисты из Ланкастерского и Манчестерского университетов разработали крошечные идентификационные метки размером с атом, которые могут повысить безопасность подключаемых к компьютеру устройств. Эти метки, по сути, являются крошечными недостатками в строительных блоках материи, из-за чего подделать их практически невозможно. Они могут использоваться как основа надёжной системы аутентификации аппаратного и программного обеспечения.

Исследователи создали крошечные слоистые металлические конструкции в лаборатории и включили в них "конструктивные недостатки", уникальные для каждого компонента.

"Самое интересное в данной работе то, что данные недостатки невозможно скопировать. Для этого пришлось бы замерять атом за атомом", – комментирует достижение один из авторов исследования доктор Джонатан Робертс (Jonathan Roberts).

Идентификационные метки были представлены в наномасштабе, где действуют законы квантовой механики, несколько отличающиеся от преобладающих в более крупных масштабах. Однако исследователи говорят, что технология может быть интегрирована в существующие производственные процессы (когда создаются огромные по меркам квантового мира компьютерные чипы).

"С помощью подобных идентификационных меток можно проверить подлинность любого электронного оборудования с гарантией в 100%, — продолжает Робертс. – Идентификация подлинности необходима. Ведь, например, если автономные автомобили будущего свяжутся с поддельным сервером, это может привести к трагическим последствиям".

Пока не ясно, каким образом будут считываться несовершенства структуры той или иной идентификационной метки, но учёные говорят о неких электронных измерениях, совместимых с технологией КМОП, по которой строятся электронные схемы сегодня.

Уже известно, что коммерческой реализацией технологии будет заниматься компания Quantum Base.

Подробная информация о разработке британских инженеров была опубликована изданием Scientific Reports.